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X-Strata920熒光射線鍍層測厚儀

X-Strata920熒光射線鍍層測厚儀

  • 所屬分類:》》PCB行業檢測儀器及設備

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  • 發布日期:2022/02/18
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詳細介紹

用途:

牛津X-Strata920是牛津儀器Z新發布的新一代X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀,僅需10秒即可得出測量結果,是CMI900的升級版,改進了系統安全部件,更新了軟件系統,測量結果可進行多樣化的輸出。適用于大多數行業,是質量控制、節約成本的Z佳檢測工具。

 

參數:                          

測厚范圍:

取決于具體的應用。 

測量精度:

膜厚≤20μin(0.5um)時,測量誤差值為:第一層±1μin,第二層±2μin,第二層±3μin

膜厚>20μin(0.5um)時,測量誤差值為:第一層±5%,第二層±10%,第二層±15%。

特點:

  1. 以更有效的過程控制來提高生產力,有助電鍍過程中的生產成本Z小化、產量Z大化。

  2. 卓越的分析性能。

  3. 無與倫比的性價比。

  4. 快速分析多達4層鍍層及15種元素。

  5. 經行業認證的技術和可靠性,確保每年都要帶來利益。

  6. 操作簡單,只需要簡單的培訓。

  7. 超大樣品臺,便于大面積樣品測量,比如印刷電路板。

  8. 堅固耐用,把停工期降到Z少。

  9. 更好的穩定性及長期可靠性。

  10.     新的外觀設計。

  11.     工作壽命延長。

  12.     新的安全特征確保數據完整性。

  13.     可定時的“自動鎖機”功能。

  14.     防止未授權操作。

  15.     改進的報告能力。

  16.     與Microsoft Excel無縫聯接。




本文網址:http://www.webandina.com/product/556.html