用途：

牛津X-Strata920是牛津儀器Z新發布的新一代X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀，僅需10秒即可得出測量結果，是CMI900的升級版，改進了系統安全部件，更新了軟件系統，測量結果可進行多樣化的輸出。適用于大多數行業，是質量控制、節約成本的Z佳檢測工具。

參數：                          

測厚范圍：

取決于具體的應用。 

測量精度：

膜厚≤20μin(0.5um)時，測量誤差值為：第一層±1μin，第二層±2μin，第二層±3μin

膜厚＞20μin(0.5um)時，測量誤差值為：第一層±5%，第二層±10%，第二層±15%。

特點：

　　1. 以更有效的過程控制來提高生產力，有助電鍍過程中的生產成本Z小化、產量Z大化。

　　2. 卓越的分析性能。

　　3. 無與倫比的性價比。

　　4. 快速分析多達4層鍍層及15種元素。

　　5. 經行業認證的技術和可靠性，確保每年都要帶來利益。

　　6. 操作簡單，只需要簡單的培訓。

　　7. 超大樣品臺，便于大面積樣品測量，比如印刷電路板。

　　8. 堅固耐用，把停工期降到Z少。

　　9. 更好的穩定性及長期可靠性。

　　10.     新的外觀設計。

　　11.     工作壽命延長。

　　12.     新的安全特征確保數據完整性。

　　13.     可定時的“自動鎖機”功能。

　　14.     防止未授權操作。

　　15.     改進的報告能力。

　　16.     與Microsoft Excel無縫聯接。